| 测试分类 | 测试内容 | 所用设备 | |
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| 无机成分分析 | 发射光谱 | 无机材料元素的定性、半定量及定量分析 | 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)； 电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪(ICP-MS)； X射线荧光光谱仪(XRF)； 火花直读光谱； 辉光放电发射光谱仪(GD-OES) |
| 吸收光谱 | 常量及微痕量元素分析 | 原子吸收光谱仪(AAS) | |
| 气体元素分析 | 金属材料、陶瓷中氧和氮的定量分析 | O、N分析仪； C、S分析仪 |
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| 结构分析 | 金相组织分析 | 高低倍组织检验及评定； 晶粒度评级； 非金属夹杂物含量测定； 脱碳层/渗碳硬化层深度测定 |
金相显微镜 |
| X射线衍射分析 | 物相定性； 物相定量； 晶胞参数； 纳米材料微结构(晶粒尺寸/微应力)； Rietveld结构精修； 高温原位衍射(HTXRD)； 低温原位衍射(LTXRD)； 织构分析； 高分辨衍射(HRXRD)； 掠入射衍射(GID)； 全反射(XRR)； 微区衍射等 |
X射线粉末衍射仪(XRD)； 高分辨X射线衍射仪(HR-XRD)； 二维探测器X射线衍射仪 |
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| 透射电镜分析 | 粉体形貌分析； EDS元素定性半定量分析； STEM+HAADF成像； 超薄片样制备及形貌分析； 高分辨晶格像； 选区电子衍射 |
透射电子显微镜(TEM)； 透射电镜样品制备设备 |
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| 探针分析 | 表面形貌； 表面三维形貌； EDS元素定性半定量分析； 元素面分布及线扫描； 微区相分析； 晶粒取向及极图分析； 半导体材料的发光特性； 部分无机非金属材料缺陷分析 |
扫描电子显微镜(SEM)； 扫描探针显微镜(SPM)； 激光共聚焦显微镜 |
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| X射线光电子能谱分析 | 材料表面(深度小于10nm)元素及元素化学状态定性定量分析； 薄膜表面逸出功、价带分析； 薄膜角分辨或离子刻蚀深度剖析 |
X射线光电子能谱仪(XPS) | |
| 有机分析 | 色谱 | 有机物的分离及定量分析 | 高效液相色谱(HPLC) |
| 质谱 | 微量有机物的定性和定量分析 | 液相色谱三重四极杆质谱联用仪(LC-MS-MS)； 气相色谱质谱联用仪(GC-MS)； 超高效液相色谱四极杆飞行时间质谱仪(UPLC-Q-TOF) |
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| 光谱 | 有机物的鉴定和鉴别 | 红外光谱仪(IR)； 显微红外； 紫外-可见分光光度计(UV)； 拉曼光谱仪(Raman) |
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| 核磁 | 有机物结构分析(氢谱、碳谱、氟谱、磷谱等) | 核磁共振谱仪(NMR) | |
| 元素 | 有机化合物、高分子材料、药物、石油产品等材料中C、H、N、S、O含量的测定。 | 有机元素分析仪 | |
| 物理性能分析 | 力学性能(缺) | 抗压强度； 弯曲强度； 抗剪强度； 抗拉强度； 洛式硬度； 维氏硬度； 显微硬度； 弹性模量 |
万能材料试验机； 硬度计； 显微硬度计 |
| 热学性能 | 材料分解温度； 玻璃化转变温度； 热失重； 相变温度及相变焓(熔点、结晶、相转变)； 反应温度及反应焓； 动态力学性能测试(储存模量、 损耗模量)； 比热容测试； 材料导热性能测试(导热系数、热扩散系数) |
热重/差热综合热分析仪(TG-DTA)； 差示扫描量热仪(DSC)； 动态热机械分析仪(DMA)； 激光导热仪(LFA)； 综合物性测量系统(PPMS) |
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| 电学性能 | 电阻率； Hall系数； 临界电流； 各向异性磁电阻； 材料微区导电性测试； 材料表面电畴观察 |
综合物性测量系统(PPMS)； 扫描探针显微镜(SPM) |
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| 光学性能 | 全反射率； 漫反射率； 截止波长； 透过率； 材料荧光性能； 磷光寿命 |
紫外-可见分光光度计(UV)； 荧光光谱仪； 量子效率测试系统 |
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| 磁学性能 | 磁滞回线； 热磁曲线； 饱和磁化强度； 剩磁； 矫顽力； 居里温度； 交流磁化率； 磁畴观察等 |
综合物性测量系统(PPMS)； 磁学性能测试系统(MPMS)； 扫描探针显微镜（SPM） |
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| 粒度及比表面分析 | 粒度分布； Zeta电位； 微、介、大孔材料比表面积、孔径分布及孔隙率测试 |
微米粒度仪； 纳米粒度仪； 比表面测试仪(BET)； 压汞仪 |
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| 密度 | 密度值；真密度 | 分析天平； 压汞仪 |
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| 催化剂性能测试 | 催化剂、催化剂载体和其他各种材料的相关物理特性； 金属表面积； 表面酸性、活性位点的分布和强度 |
化学吸附仪 | |
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日期：2019-12-06， 查看：5417